一、產(chǎn)品介紹

ICP-OES MICS系列全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析儀器利用性能可靠的集成固態(tài)射頻電源、穩固的恒溫二維分光系統、科研級制冷防溢出CCD檢測系統，結合的光譜校正技術(shù)，將ICPOES IICS的操作性、靈活性和可靠性發(fā)揮的超乎想象，日常操作和維護非常簡(jiǎn)單，更適合分析實(shí)驗的操作要求，實(shí)現小型化(miniatorization)、便捷化(Intelligentize)、智能化(Convenience)的光譜儀( Spec仕ometer )。ICP-OES MIC系列全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析儀器，可廣泛應用于環(huán)境保護、食品安全、地質(zhì)礦產(chǎn)、冶金、高色金屬、稀土、化工、||伍床醫藥、石油制昂、半導體、農業(yè)研究等各個(gè)領(lǐng)域。用于測定不同物質(zhì)中的常里微里、瘦里元素含里，可用于樣目中元素的定性、半定里及精確定里分析，檢出限可達十億分之一級。

二、性能指標

檢測器:

高效半導體制冷的CCD固體檢測器，在光譜儀波長(cháng)范圍內具有連續像素，能任意選擇波長(cháng)，且具有天然的防溢出功能設計。檢測單元:大于3,000，000個(gè)檢測單元，讀取速度2Mz°

像素分辨率:<0.003rm。

檢測器制冷系統:為獲得的檢測器暗電流，采用高效三級半導體制冷。

工作溫度:<-45℃，到達工作溫度的時(shí)間:く3 分鐘。

光學(xué)系統:恒溫驅氣型中階梯分光系統。

單色器:中階梯光棚和棱鏡二維色散系統，高能里，為保證儀器測試的穩定性，光柵和棱道等內光路部件位置固定不動(dòng)，在光譜儀全波長(cháng)范圍內一次曝光同時(shí)測定所有元素。

光室:帶精密光室恒溫38℃±0.1℃，可使用氙氣或氮氣進(jìn)行光室吹掃，測定<200nm譜線(xiàn)時(shí)驅氣里<3L/min。

波長(cháng)范圍:167-1000r，全波長(cháng)覆蓋。

光學(xué)分辨率(FHW):As189.042rm半峰寬<0.007nm，Ca393.366mmn半峰寬<0.017nm，Ba614.172半峰寬<0.024rm，K766.490mm半峰寬<0.035rm為保證光學(xué)系統的穩定性和優(yōu)良的光通里，焦距為280mm。

等離子體:

等離子體觀(guān)察方式:炬管垂直放置

RF發(fā)生器:固態(tài)發(fā)生器，等離子體線(xiàn)圈具有聚四氟乙烯保護層設計，防腐蝕，免維護。

頻率:27.12MHZ。

RF功率多1300W。

氣路控制:配置3路高精度質(zhì)里流里控制器，由ICP-0ES軟件直接控制，包括冷卻氣、輔助氣、霧化氣。精度0.01 L/min。

蠕動(dòng)泵:5通道16滾輪蠕動(dòng)泵。

分析性能:

分析速度:>每分鐘50個(gè)元素或譜線(xiàn)，而且每條測里譜線(xiàn)的積分時(shí)間>10秒;樣品消耗量:<2ml，測定大于70個(gè)元素;

譜線(xiàn)靈活性:可對分析元素的任何一條譜線(xiàn)進(jìn)行定性、半定量和定里分析，便于分析研究。

測定譜線(xiàn)的線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍:>106(以mn257.6nm 來(lái)測定，相關(guān)系數>0.9996)，提供證明材料。

內標校正:同時(shí)的內標校正，即內標元毒和測量元毒必須同時(shí)曝光。

精密度:測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，重復測定十次的RSD0.5%。

穩定性:測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，不使用內標校正，連續測定4小時(shí)的長(cháng)時(shí)間穩定性RSD<1.0%。